Les emballages passent aux rayons X.

C’est ce que nous propose l’équipementier Bizerba grâce à son nouveau détecteur à rayon X baptisé « XRE ». Celui-ci, conçu pour déceler toutes impuretés métalliques, en céramique, en verre ou encore caillouteuses présentes dans tout type d’emballages, s’adapte même aux emballages en aluminium. Selon leurs densités, leurs composés chimiques et leurs dimensions, les corps étrangers absorbent plus ou moins facilement les rayons par rapport au produit environnant. Il devient alors possible grâce au système d’inspection XRE de Bizerba de les identifier dans les emballages. Ce système est capable d’inspecter jusqu’à 400 emballages par minute, un résultat qui peut être en partie attribué au système d’exploitation en temps réel « QNX » présent dans le détecteur. Ce système d’exploitation ne possédant pas de disque dur, il n’est par conséquent pas confronté aux problèmes classiques de Windows, aux erreurs de système et aux conflits habituellement générés avec les pilotes. De plus, grâce à cela, toute la capacité du processeur est dédiée au travail de détection. Cette technologie, présentée au salon IPA par le spécialiste du matériel de pesage et de contrôle, Bizerba, a remporté un prix au concours de l’innovation d’IPA.